光纤接头熔接的过程当中，我们应该密切关注熔接损耗，在适度的步骤内进行测量。本文紧紧围绕一般光纤接头熔接损耗的测量解读，应用的一种手段依旧是光时域反射仪（OTDR）。

这类仪器设备选用后向散射法来测量光纤接头处熔接损耗值。熔接机里虽也显示熔接损耗值，但因采用的是光纤芯棒注视法进行部分监控测出的，仅仅在十分理想化状态下才体现具体的熔接损耗，故一般仅作参考用。

一、测量全过程的讲解

因为光纤的折光率、芯径、模场孔径及瑞利散射系数的不一样，因此从光纤接头两边各自测量熔接损耗所得到的两条路线的熔接损耗测量值是不一样的且差距很大，因此熔接损耗的测量可分别从光纤接头的两边开展测量，亦即双重测量，取两条路线测量值代数和的平均数做为该接口处熔接损耗值。

由于被接续的二根光纤透射特性的差别，OTDR测出光纤接头的熔接损耗值很有可能为恰逢也有可能为负数，对熔接损耗为负数的光纤接头可觉得熔接达标，一般不再次熔接；熔接时每一个接头的熔接损耗的OTDR测量值一般应低于熔接损耗所规定的指标的1／2－2／3，如指标值规定低于0.1dB，则单边测量值一般应低于0.05－0.06dB。

测量熔接损耗的办法一般有远侧检测法，即放置主机房里的OTDR根据带接插件的光纤尾纤与待测光缆电缆相接，光纤接续点不断进步挪动，而OTDR一直主机房内对接续点进行品质监控和熔接损耗测量，其特点是测量误差小，主要缺点只有单边测量，适用模场孔径一致性比较好的光纤。近侧检测法即OTDR一直接续点前面距接续处一个光缆电缆盘长，主要缺点OTDR需不断进步挪动，危害设备的应用，特点是OTDR的测量范畴没有要求很大。

二、测量环节中需要注意的问题关键点

以上两种方式测出的熔接损耗值都为单边测量值，在光纤接头所有熔接完成后又从光纤线路的另一端先后测量每个光纤接头的熔接损耗值，再将每一个接头的两条路线的测量值求和取平均值做为该接头的熔接损耗。

远侧环回双重检测法即是把光源里的光纤临时性作环接组成控制回路，进而会对光纤接头开展双重测量，防止了单边测量无法及时得到熔接损耗系数的点，这类测量方式规定OTDR的仪器设备测量间距范畴会大，但是因为测量方式太过于繁杂因此只是针对12芯以内的光缆电缆。